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隨選網路研討會

在新型功率元件 Layout 設計上經常會遇到各種任意曲線與對稱的結構設計需求；此外功率元件的設計也沒有晶圓廠設計套件 (Design Kit) 的支援，經常需要以人工的方式對 Layout 進行繁瑣的驗證和檢查。

面對以上挑戰，Siemens EDA 技術顧問將詳細介紹 L-edit如何克服元件多樣化、參數不連續及幾何形狀複雜的 Layout 問題。以及藉由 Calibre 及相關 DRC 驗證技術，確保準確的設計驗證，降低光罩錯誤成本，縮短產品上市時程，提升半導體功率元件的設計效率。