By Nada Tarek 隨著積體電路（IC）設計不斷突破技術極限，設計的複雜度也快速攀升。從微機電系統（MEMS）到 3D IC，這些先進的設計往往包含非傳統的曲線形狀——也就是不遵循典型直線或「曼哈頓式」幾何結構的設計。不過，儘管這些曲線形狀在功能與效能上帶來了顯著提...

作者： Lee Wang 半導體產業正經歷從傳統的 2D 積體電路（IC）設計到更先進的 2.5D 與 3D 積體電路（3DIC）的轉型。推動這項轉型的驅動力，來自於突破摩爾定律限制，實現更高效能、效率與功能的需求。然而，技術的演進也帶來全新難題，特別是在熱管理方面。為因應...

作者：Neel Natekar 對從事積體電路（IC）可靠度工作的工程師而言，最大的挑戰在於如何確保靜電放電（ESD）防護具備足夠強度的同時，又不對防護電路進行過度設計。過度設計不僅會增加晶片面積，還會降低高速與射頻（RF）電路的效能。對此，Siemens EDA...

By Michael White and David Abercrombie 隨著IC設計的複雜度持續上升，各家公司紛紛採用「前期驗證」這種前瞻性的策略，將關鍵的驗證任務提前至設計流程的初期，藉此加快產品上市速度並提升設計品質。這個概念最早由軟體工程師Larry...

在處理類比或射頻設計時，您是否也曾因元件匹配不佳、對稱性錯位，導致效能不穩或反覆 tapeout 延誤？傳統佈局驗證方式無法捕捉具電氣與環境感知的對稱需求，導致除錯流程冗長。Siemens Calibre® 導入進階對稱性檢查技術，協助設計團隊在設計初期即發現並修正對稱性問...

By Dina Medhat 靜電放電（ESD）事件會對未加保護的積體電路（IC）造成嚴重損害。ESD事件是由兩個帶電物體之間突如其來且不可預期的電流流動所引發，可能的成因包括接觸、電氣短路或絕緣層擊穿。 無論其成因為何，所有ESD事件都可能導致金屬熔化、接面擊穿或氧化層失...

By Jonathan Muirhead 積體電路（IC）設計，特別是在類比與射頻（RF）電路領域，需極為注重細節，以確保良好的可製造性與高效能的晶圓品質。在此過程中，「匹配」與「對稱性」的概念扮演關鍵角色，尤其是在差分對與電流鏡等拓撲結構中更是如此。接下來，讓我們簡要探討...

By Sara Khalaf 對稱性在積體電路設計中扮演關鍵角色，有助於確保元件行為平衡、降低失配風險，並提升良率。然而，驗證對稱性傳統上是一項繁瑣且耗時的工作。許多設計人員常常需要花費大量時間手動檢查佈局，或撰寫複雜的驗證規則，卻仍可能在設計流程的後期，甚至是晶片製造後，...

在現今 IC 設計節奏飛快的市場裡，時間就是競爭力。你可能也曾經歷過這樣的狀況：所有佈局都已就緒，卻在簽核階段才被 DRC（設計規則檢查）攔下，導致反覆修正、無止盡的執行等待，讓時程一延再延，甚至壓縮後段製程的驗證時間。 Siemens...